10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出先進探測器
發(fā)布時間：2018-11-08
2018年10月30日至11月3日覃思科技會同荷蘭ASI公司赴重慶參加了LEEM/PEEM-11國際研討會并展出了ASI出品的光子計數(shù)型高靈敏探測器相機，獲得了來自美國、英國、德國、瑞典、日本和香港等國家和地區(qū)的專家學者的好評和青睞;由于出色的性能指標及其在低能電子顯微鏡(LEEM)、光電子顯微鏡(PEEM)領(lǐng)域的廣泛的應(yīng)用前景，不斷有興趣客戶前來展臺咨詢洽購。
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