BrillianSe™直接轉(zhuǎn)換高精度X射線探測器

加拿大KA Imaging推出了其專有的無定形硒（a-Se）BrillianSe™X射線探測器，用于高亮度成像。這款混合a-Se/CMOS的探測器采用具有高固有空間分辨率的a-Se光導(dǎo)體，可直接將X射線光子轉(zhuǎn)換為電荷。然后，低噪聲CMOS有源像素傳感器（APS）讀取電子信號。無需首先將X射線光子轉(zhuǎn)換為可見光（這在間接閃爍體方法中是必需的），因此不需要減薄轉(zhuǎn)換層以減少光學散射。BrillianSe™提供了一種獨特的組合，使用8微米像素實現(xiàn)高空間分辨率，以及具有高達120 keV的能量的高探測量子效率（DQE）。這種組合可實現(xiàn)在低通量和高能量條件下進行高效成像，并可進行基于傳播的（無光柵）相位對比增強，以提高低密度材料成像時的靈敏度。BrillianSe™ X射線檢測器具有1600萬的像素（16M）。

主要應(yīng)用

?低密度材料相差對比

?單光子靈敏度(>50 keV)

?同步加速器微納CT

?高能量(>50 keV)布拉格相干衍射成像

技術(shù)介紹

直接轉(zhuǎn)換技術(shù)允許使用厚轉(zhuǎn)換層，并以100%填充因子運行，以獲得高 DQE。在60kVp（2mm鋁濾波）下，BrillianSe™具有市場領(lǐng)先的高 DQE（10 cycles/mm時為36%）和小點擴散函數(shù)（PSF）（1.1 像素）的組合。這有助于低通量應(yīng)用成像，例如X射線衍射、劑量敏感的蛋白晶體學以及對有和無相位對比的材料進行受通量限制的成像。在63keV 時，MTF在 Nyquist（奈奎斯特）頻率下為10%。此外，在低能量（21 keV）下，使用透射條形靶標樣可展示8微米的分辨率。

JIMA空間分辨率標樣（21kev）的BrillianSe™圖像。數(shù)字表示以微米為單位的條寬。左側(cè)為橫截面8 μm 的圖案

應(yīng)用案例

BrillianSe™高分辨X射線探測器具有16M像素，采用直接轉(zhuǎn)換專有技術(shù)，對樣品進行“吸收襯度+相位襯度”成像，大幅度提高樣品中的低密度成分成像時的靈敏度，可用于硬x射線包括同步加速器線束。探測樣品案例，如：芳綸等復(fù)合材料（Kevlar）、腦支架、硅通孔(TSV)、牙簽、甜椒種子、藥物膠囊、輕質(zhì)骨料（混凝土）等。